技術開発室(分析系)

技術開発室(分析系)では、研究支援のために以下に示した装置群を保有しています。利用希望の場合は、下記のそれぞれの機器に対応する担当者にお問い合わせください。


XRF
ガラスビード法による元素分析
(測定元素はO〜Nd,濃度範囲は数ppm〜%)

RIGAKU社製
走査型蛍光X線分析装置
ZSX Primus II

サーモニクス社製
ビードサンプラー
NT-2100
ICP-MS
主に主に同位体比分析
(濃度範囲は数ppt〜%)

Thermofisher Scientific社製
ベンチトップ型四重極型ICP-MS
XS-2
EPMA
主に微小領域の元素分析
(測定元素はB〜U,濃度範囲は%)

JEOL社製
電子プローブマイクロアナライザー
JXA-8800

JEOL社製
真空蒸着装置
JEE-400
ICP-MS
主に元素濃度分析
(濃度範囲は数ppt〜%)

Micromass社製
多重検出器地場型ICP-MS
IsoProbe


メンバー

名前職名
中井 俊一教授
安田 敦准教授
外西 奈津美技術職員


問い合わせ・連絡先

技術開発室分析系

〒113-0032
東京都文京区弥生1−1−1
東京大学地震研究所
観測開発基盤センター 技術開発室分析系