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技術開発室(分析系) |
技術開発室(分析系)では地球科学に関する研究を支援するため,以下の装置を共同利用機器として公開しています.
利用希望の方は化学分析依頼票にご記入の上,下記のアドレスまでお問い合わせください.
・学生および研究員が分析依頼を行う際には,指導(受け入れ)教員の署名が必要です.
・分析に必要な試薬類や消耗品に関し,諸経費の負担をお願いする場合があります.
・対象試料:主に火山岩を中心とした岩石試料
・分析方法:ガラスビード法(1:5倍希釈)
・対象元素:Si,
Ti, Al, Fe, Mn, Mg, Ca, Na, K, P(主成分元素の測定可能濃度は%オーダー)
Ba, Ce, Co, Cr, Cu, Ga, La, Nb, Ni,
Pb, Rb, Sc, Sr, Th, V, Y, Zn, Zr(微量成分元素の測定可能濃度はppmオーダー)
・分析条件:地震研彙報をご覧ください
RIGAKU社製 走査型蛍光X線分析装置Primus II
XRF分析の料金表* |
1試料の分析** |
作成済みビードを受け取り,分析 |
3,000円〜 |
粉末試料を受け取り,ビード作成+分析 |
10,000円〜 |
未破砕試料を受け取り,ビード作成+分析 |
15,000円〜 |
*利用料金は校費移算にて清算します.本学以外の方は別途ご相談下さい.
**依頼試料数や試料状態等によって変わります.
〒113-0032
東京都文京区弥生1-1-1
東京大学地震研究所 技術部 技術開発室(分析系)