技術開発室（分析系）
技術開発室（分析系）では地球科学に関する研究を支援するため、以下の装置を共同利用機器として公開しています。
利用希望の方は利用規約をご覧いただき、事前相談を行ってください。
※ 利用申し込みには事前相談を必須としています。
- 学生および研究員が分析依頼を行う際には、指導（受け入れ）教員の承認が必要です。
- 分析に必要な試薬類や消耗品に関し、諸経費の負担をお願いする場合があります。
XRF（走査型蛍光X線分析装置）
装置： RIGAKU社製 Primus II
- 対象試料： 主に火山岩を中心とした岩石試料
- 分析方法： ガラスビード法（6倍希釈）
- 対象元素：
- 主成分元素：Si, Ti, Al, Fe, Mn, Mg, Ca, Na, K, P（%オーダー）
- 微量成分元素：Ba, Ce, Co, Cr, Cu, Ga, La, Nb, Ni, Pb, Rb, Sc, Sr, Th, V, Y, Zn, Zr（ppmオーダー）
- 分析条件： 地震研彙報をご覧ください。
利用料金表（税込 / 1試料あたり）
本料金表は1試料あたりの基本作業に対して基本料金を設定しています．
申請者へ請求書を発行しますので期限までに振込をお願いします．
| 利用形態 | 基本料金 |
|---|---|
| 作成済みビードを受け取り + 分析 | 3,000円 |
| 粉末試料（粒径10μm以下）を受け取り、ビード作成 + 分析 | 11,000円 |
| 未破砕もしくは粗粒試料を受け取り，ビード作成＋分析 | 16,000円 |
※こちらでビード作成を行う場合，以下の作業が必要な試料には追加料金が必要です．
- カッターによる切断（硬い岩石や大きな岩石）：１試料につき+1,000円
- 塩抜き（海上，海岸，海底で採取した試料）：１試料につき+2,000円
報告書の提出
装置の利用終了後1ヶ月以内に装置利用報告書（様式２）を事務に提出お願いいたします．
問い合わせ / 連絡先
〒113-0032
東京都文京区弥生1-1-1
東京大学地震研究所 技術部 技術開発室（分析系）